首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

印刷电路板缝隙腐蚀行为研究
引用本文:曲文娟,杜荣归,卓向东,林昌健. 印刷电路板缝隙腐蚀行为研究[J]. 材料保护, 2008, 41(2): 4-7
作者姓名:曲文娟  杜荣归  卓向东  林昌健
作者单位:厦门大学化学化工学院化学系固体表面物理化学国家重点实验室,福建,厦门,361005
摘    要:采用模拟印刷电路板缝隙腐蚀装置,发展阵列电极方法测试缝隙内电路板表面铜在NaCl溶液中的腐蚀电位,研究了多种因素对其缝隙腐蚀行为的影响.结果表明,缝隙宽度为20~30μm时,印刷电路板容易发生缝隙腐蚀;在浸泡初期,缝隙内铜的腐蚀电位随浸泡时间延长负移,但浸泡48 h后,变化趋势较小;溶液中NaCl浓度达到1 mol/L时,对促进电路板的缝隙腐蚀作用较为明显;酸性范围内,缝隙内电路板腐蚀电位随缝隙大小、浸泡时间、NaCl溶液浓度、溶液的pH值降低而负移;温度低于45℃后,缝隙内铜的腐蚀电位随温度的升高而降低.

关 键 词:印刷电路板    缝隙腐蚀  阵列电极  印刷电路板  缝隙腐蚀  行为研究  Printed Circuit Board  温度  溶液浓度  大小  范围  酸性  腐蚀作用  变化趋势  延长  浸泡时间  发生  缝隙宽度  结果  影响  腐蚀行为  因素  腐蚀电位
文章编号:1001-1560(2008)02-0004-04
收稿时间:2007-08-12
修稿时间:2007-08-12

Crevice Corrosion Behavior of Printed Circuit Board
QU Wen-juan,DU Rong-gui,ZHUO Xiang-dong,LIN Chang-jian. Crevice Corrosion Behavior of Printed Circuit Board[J]. Journal of Materials Protection, 2008, 41(2): 4-7
Authors:QU Wen-juan  DU Rong-gui  ZHUO Xiang-dong  LIN Chang-jian
Abstract:
Keywords:
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号