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ZnO掺杂对CaCu3Ti4O12陶瓷介电性能的改善及其机理研究
引用本文:陈子成,张建花,郝嵘,王大伟,郭向阳.ZnO掺杂对CaCu3Ti4O12陶瓷介电性能的改善及其机理研究[J].电子元件与材料,2023(12):1441-1446.
作者姓名:陈子成  张建花  郝嵘  王大伟  郭向阳
作者单位:1. 太原理工大学电气与动力工程学院;2. 煤矿电气设备与智能控制山西省重点实验室;3. 矿用智能电器技术国家地方联合工程实验室
基金项目:国家自然科学基金(51701136,51977137);;山西省自然科学基金(201901D211044);
摘    要:现代科技的发展对于电子器件的小型化有着越来越高的要求,CaCu3Ti4O12(CCTO)是一种被认为具有开发潜力的介电材料,然而其介电损耗过高阻碍其投入应用,因此采用溶胶凝胶法制备了不同ZnO掺杂含量的CCTO陶瓷。使用了XRD、SEM、宽频介电谱仪和高阻计对所有样品的相组成、微观形貌和介电性能进行了表征,探讨了不同ZnO掺杂量对CCTO陶瓷介电性能的影响。结果表明,ZnO掺杂的CCTO陶瓷保持了单一的CCTO相结构和良好的晶粒分布,击穿特性有所增强。其中,ZnO掺杂浓度为摩尔分数6%的CCTO陶瓷,其相对介电常数为7471(1 kHz),tanδ最小值为0.018,并且在较宽的频率范围内(101~105 Hz)都具有较低的tanδ值(<0.05),击穿场强为2.95 kV/cm。分析表明,tanδ的改善主要是由于晶界电阻的增强和晶界弛豫极化损耗的降低所引起。ZnO掺杂的CCTO陶瓷具有良好的介电性能,对加快CCTO的广泛应用具有重要意义。

关 键 词:CaCu3Ti4O12  ZnO  介电损耗  晶界电阻  弛豫极化损耗
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