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基于GaAs pHEMT工艺的0.1 GHz~8.0 GHz低噪声放大器
引用本文:叶乔霞,陈奇超,张超,高海军.基于GaAs pHEMT工艺的0.1 GHz~8.0 GHz低噪声放大器[J].杭州电子科技大学学报,2023(5):30-35+74.
作者姓名:叶乔霞  陈奇超  张超  高海军
作者单位:杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室
基金项目:国家自然科学基金资助项目(61871161);
摘    要:基于0.25μm GaAs pHEMT工艺,设计了一款工作频率为0.1 GHz~8.0 GHz的超宽带低噪声放大器,采用单级共源共栅(cascode)结构,使用电阻并联负反馈扩展了低噪声放大器的带宽,并且采用电感中和技术补偿了高频增益与提高频率响应。仿真结果表明:该款低噪声放大器的分数带宽高达195%,噪声系数小于1.32 dB,最高增益为21.2 dB,1 dB压缩点为16 dBm。在砷镓化合物工艺设计的低噪放中,本文拥有195%的分数带宽,较高的增益和较低的噪声系数。

关 键 词:砷化镓  低噪声放大器  共源共栅  宽带
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