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| 基于微系统技术的NIR光谱仪——采用微系统技术降低NIR近红外光谱仪的成本 | |
| 作者姓名： | Alexander Wolter, Heinrich Gruger, Andreas Kenda |
| 作者单位： | [1]HiperScan有限责任公司; [2]霍伦霍夫研究所; [3]CTR股份公司 |
| 摘 要： | 带有光电二极管的NIR近红外光谱仪是流程分析技术中是最常用的检测监控元器件，它具有检测速度快且坚固耐用的特点，但却价格昂贵。而扫描一光栅技术可作为这一检测监控应用中的替代方案，它采用振荡的微系统技术，避免使用价格昂贵的光电二极管。 |
| 关 键 词： | 近红外光谱仪 微系统技术 NIR 光电二极管 成本 检测监控 流程分析 光栅技术 |
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