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一种500V终端结构的设计与优化
引用本文:刘驰,冯全源,叶乃仁.一种500V终端结构的设计与优化[J].微电子学,2012,42(6).
作者姓名:刘驰  冯全源  叶乃仁
作者单位:1. 西南交通大学微电子研究所,成都,610031
2. 美禄科技股份有限公司,中国台湾新竹300
基金项目:国家自然科学基金资助项目,国家高技术研究发展(863)计划基金资助项目
摘    要:设计了一个500 V纯场限环终端结构.在保证击穿电压的前提下,为了尽可能减小终端结构所占的芯片面积,适当调整场限环终端的结构参数,添加金属场板,形成场限环-场板联合边端结构,界面态电荷对器件性能的影响也得到改善.采用场限环-场板结构的终端,实现了539 V的击穿电压,并缩短了17.2μm的边端宽度,相应节省了14%的宽度.

关 键 词:场限环  场板  终端结构  降低表面场强

Design and Optimization of a 500 V Termination Structure
LIU Chi , FENG Quanyuan , YEAH Nairen.Design and Optimization of a 500 V Termination Structure[J].Microelectronics,2012,42(6).
Authors:LIU Chi  FENG Quanyuan  YEAH Nairen
Abstract:
Keywords:
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