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| V型缺口冲击试样尺寸公差因素的有限元分析 | |
| 作者姓名： | 范立坤 |
| 作者单位： | 上海材料研究所上海市工程材料应用评价重点实验室; |
| 基金项目： | 上海市科委资助项目(12DZ2291000,12DZ2294700) |
| 摘 要： | 对照GB/T 229-2007和ASTM E23-2012c(2014)对V型缺口冲击试样的加工要求,使用有限元模拟计算方法,分析了试样尺寸公差对试样缺口处应力的影响,并利用缺口处的应力评估了尺寸公差对缺口敏感性的影响权重。结果表明:缺口底部高度和缺口角度对试样缺口敏感性的影响权重最大;试样宽度和高度的影响次之,试样长度的影响最小;相比较,ASTM E23-2012c(2014)对V型缺口冲击试样加工尺寸公差的要求比GB/T 229-2007更为合理。 |
| 关 键 词： | V型缺口冲击试样 尺寸公差 有限元分析 缺口敏感性 影响权重 |
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