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任重道远
作者单位:《电子测试》编辑部
摘    要:本刊连续三期关注着“’99VXI技术大会与第九届全国集成电路测试学术年会”的召开,是希望大会能对处于世纪之交的我国电子测试技术在新世纪中的发展有所推动。不管是集成电路测试还是VXI技术,对于正在进入信息时代的中国来说,都堪称是前沿技术。本届大会上从专题报告、发表的论文到所展示的成果和产品,几乎无一不是计算机控制的自动测试仪器和系统。对于研制开发、生产制造、应用

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