| 10kV开关柜开断对二次智能设备的电磁干扰 |
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| 引用本文： | 黎鹏,黄道春,阮江军,牛小波,朱晨光. 10kV开关柜开断对二次智能设备的电磁干扰[J]. 电网技术, 2015, 0(1): 110-117 |
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| 作者姓名： | 黎鹏 黄道春 阮江军 牛小波 朱晨光 |
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| 作者单位： | 1. 武汉大学电气工程学院,湖北省武汉市,430072
2. 平高集团有限公司,河南省平顶山市,467001 |
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| 基金项目： | “十一五”国家科技支撑计划项目(2009BAA19B05)。Project Supported by Project of the National Eleventh-Five Year Research Program of China(2009BAA19B05)． |
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| 摘 要： | 随着开关柜电压等级的提高,高压部分与低压智能化设备的电磁兼容问题日益突出,断路器开断被认为是中压开关柜中最严重的电磁干扰来源,它可能会造成二次控制设备出现故障,研究开关柜开断对二次智能设备的电磁干扰问题具有重要意义。利用振荡型合成试验回路对10 k V开关柜进行合成开断试验,同时采集了电流互感器输出电流信号,智能操控装置和间隔智能单元输入电流信号。对采集的波形数据进行时频特性分析,得到干扰信号的频带及能量分布情况。结果表明:开关柜开断对电流互感器二次侧、智能操控装置以及间隔智能单元均产生了瞬态电磁干扰,开断燃弧过程的干扰频带主要分布在31.25~62.5 MHz;电弧过零阶段频带主要分布在15.625~31.25 MHz;干扰幅值最大达到正常情况下的4倍。
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| 关 键 词： | 开关柜 电磁干扰 合成试验 小波分析 特征能量 频带分布 |
Electromagnetic Interference on Secondary Smart Devices Caused by Breaking 10 kV Switch Cabinet |
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| LI Peng,HUANG Daochun,RUAN Jiangjun,NIU Xiaobo,ZHU Chenguang. Electromagnetic Interference on Secondary Smart Devices Caused by Breaking 10 kV Switch Cabinet[J]. Power System Technology, 2015, 0(1): 110-117 |
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| Authors: | LI Peng HUANG Daochun RUAN Jiangjun NIU Xiaobo ZHU Chenguang |
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| Affiliation: | LI Peng;HUANG Daochun;RUAN Jiangjun;NIU Xiaobo;ZHU Chenguang;School of Electrical Engineering, Wuhan University;Pinggao Group Co., Ltd; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | switch cabinet electromagnetic interference synthetic test wavelet analysis characteristic energy frequency distribution |
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