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超突变结变容管的设计模型
引用本文:钱刚,郝达兵,顾卿. 超突变结变容管的设计模型[J]. 半导体技术, 2010, 35(12): 1158-1161. DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2010.12.004
作者姓名:钱刚  郝达兵  顾卿
作者单位:中国电子科技集团公司,第五十五研究所,南京,210016;中国电子科技集团公司,第五十五研究所,南京,210016;中国电子科技集团公司,第五十五研究所,南京,210016
摘    要:通过建立一种超突变结变容二极管的杂质浓度分布模型,并基于求解一雏泊松方程、雪崩击穿条件方程和电阻计算公式,推导了该模型的C-V特性、VBR、Rs和Q值,设计了用于分析该模型的模拟软件,阐述了模拟软件的运行流程.基于该模型和模拟软件,采用外延-扩散的方法研制了一种硅超突变结变容二极管,采用C-V法测量了外延材料的杂质浓度分布,结果表明材料的浓度分布与模拟结果相符.研制的变容二极管的主要参数:击穿电压VBR为50~55 V;电容变化比(C_4v/C_8v为2.42~2.44;VR=-4 V,f=50 MHz时的品质因素Q为150~180,实测参数与模拟结果吻合得很好.设计模型和模拟软件得到了验证.

关 键 词:超突变结  外延-扩散法  C-V特性  击穿电压  品质因素

Design Model of Hyperabrupt Varactor Diodes
Qian Gang,Hao Dabing,Gu Qing. Design Model of Hyperabrupt Varactor Diodes[J]. Semiconductor Technology, 2010, 35(12): 1158-1161. DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2010.12.004
Authors:Qian Gang  Hao Dabing  Gu Qing
Affiliation:Qian Gang,Hao Dabing,Gu Qing(The 55th Research Institute,CETC,Nanjing 210016,China)
Abstract:A doping profile model used to design hyperabrupt varactor diodes was estabished.The C-V characteristic,the breakdown voltage VBR,the series resistance RS and the quality factor Q from resolving one dimensional Poisson Equation,avalanche breakdown condition equation,resistance calculating formula were derived.The software was designed for the analysis of this model,and the process of the software was described.A group of silicon hyperabrupt varactor diodes designed with this software were fabricated by diff...
Keywords:hyperabrupt junction  epitaxial-diffusion  C-V characteristic  breakdown voltage  quality factor  
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