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离子辅助沉积对 Nb2O5薄膜特性的影响
引用本文:张德景,李明宇,顾培夫.离子辅助沉积对 Nb2O5薄膜特性的影响[J].浙江大学学报(自然科学版 ),2004,38(10):1387-1390.
作者姓名:张德景  李明宇  顾培夫
作者单位:浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室 浙江杭州310027,浙江杭州310027,浙江杭州310027
摘    要:为了提高Nb2O5薄膜的聚集密度,改善氧化铌薄膜的光学特性和机械特性,采用霍尔源离子辅助沉积(IDA)技术在K9玻璃基板上制备了Nb2O5单层薄膜,并与常规沉积条件下制备的Nb2O5薄膜作了比较.由于IAD技术使Nb2O5膜的聚集密度提高了14%,膜层折射率从常规工艺的2.03上升到2.18,膜层的附着力和牢固度从常规工艺的1.0×107N/m2提高到129.7×107N/m2.

关 键 词:Nb2O5薄膜  离子辅助沉积  聚集密度  附着力
文章编号:1008-973X(2004)10-1387-04
修稿时间:2003年9月13日

Study on performance of Nb2O5 films with ion assisted deposition
ZHANG De-jing,LI Ming-yu,GU Pei-fuejiang University,Hangzhou ,China.Study on performance of Nb2O5 films with ion assisted deposition[J].Journal of Zhejiang University(Engineering Science),2004,38(10):1387-1390.
Authors:ZHANG De-jing  LI Ming-yu  GU Pei-fuejiang University  Hangzhou  China
Affiliation:ZHANG De-jing,LI Ming-yu,GU Pei-fuejiang University,Hangzhou 310027,China)
Abstract:
Keywords:Nb_2O_5 thin films  ion assisted deposition  packing density  adhesion
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