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大光轴倾角的偏光干涉测量方法
引用本文:沈为民,李卫涛,王育红,方涛. 大光轴倾角的偏光干涉测量方法[J]. 计量学报, 2007, 28(2): 114-117
作者姓名:沈为民  李卫涛  王育红  方涛
作者单位:中国计量学院光电信息工程系,浙江,杭州,310018;中国计量学院光电信息工程系,浙江,杭州,310018;中国计量学院光电信息工程系,浙江,杭州,310018;中国计量学院光电信息工程系,浙江,杭州,310018
摘    要:针对偏光干涉法测量晶体光轴倾角存在精度低、范围小的缺点,提出了用相对光轴出露点的条纹数而不是距离来决定光轴倾角。将条纹数分为整数部分和小数部分,用非线性插值方法求解小数部分,用主截面内干涉条纹的相对位置决定整数部分。对6块铌酸锂晶体在不同单色光源、不同数值孔径下进行测量,结果相当一致。实验表明,光轴倾角的测量范围可有效拓宽,而测量误差可减小到0.1^o。

关 键 词:计量学  单轴晶体  锥光干涉图  光轴倾角
文章编号:1000-1158(2007)02-0114-04
修稿时间:2005-10-31

A Measurement Method for Large Optic Axial Angle Based on Conoscopic Interference
SHEN Wei-min,LI Wei-tao,WANG Yu-hong,FANG Tao. A Measurement Method for Large Optic Axial Angle Based on Conoscopic Interference[J]. Acta Metrologica Sinica, 2007, 28(2): 114-117
Authors:SHEN Wei-min  LI Wei-tao  WANG Yu-hong  FANG Tao
Abstract:
Keywords:Metrology  Uniaxial crystal  Conoscopic interference pattern  Optical axis angle
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