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等静压力诱导的PMN-PT单晶介电弛豫特性研究
引用本文:戴中华,邢普,姚熹,徐卓. 等静压力诱导的PMN-PT单晶介电弛豫特性研究[J]. 功能材料, 2009, 40(6)
作者姓名:戴中华  邢普  姚熹  徐卓
作者单位:南昌航空大学,无损检测技术教育部重点实验室,江西,南昌,330063;西安交通大学,电子材料与器件研究所,陕西,西安,710049
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)资助项目(2002CB613307); 江西省自然科学基金资助项目(2009JX02191); 江西省科技厅支持计划资助项目(2009JX01024); 南昌航空大学启动基金资助项目(ZA200801202)
摘    要:研究了不同等静压力下的PMN-PT单晶的介电常数(εr)与温度(T)的关系,以及常温下介电常数(εr)及损耗(tanδ)与压力(p)之间的关系.发现了PMN-PT单晶在压力作用下出现明显的介电频率弥散现象.当等静压力增大到一定压力时,PMN-PT单晶的介电常数值迅速降低,介电频率弥散更加显著,且出现弛豫特性,介电损耗的弛豫特征更加明显.随着频率的增加,介电损耗峰对应的峰值压力向高压方向移动.其根本原因是压力诱导的介电-压力弛豫特性导致的.

关 键 词:等静压力  弛豫  频率弥散

Dielectric relaxation properties of PMN-PT single crystals under hydrostatic pressure
DAI Zhong-hua , XING Pu , YAO Xi , XU Zhuo. Dielectric relaxation properties of PMN-PT single crystals under hydrostatic pressure[J]. Journal of Functional Materials, 2009, 40(6)
Authors:DAI Zhong-hua    XING Pu    YAO Xi    XU Zhuo
Abstract:
Keywords:hydrostatic pressure  poling  frequency dispersion  
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