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沉积位置对脉冲激光沉积纳米Si晶薄膜微观结构的影响
引用本文:周阳,郑红芳,王英龙,刘保亭. 沉积位置对脉冲激光沉积纳米Si晶薄膜微观结构的影响[J]. 功能材料, 2009, 40(10)
作者姓名:周阳  郑红芳  王英龙  刘保亭
作者单位:河北大学,物理科学与技术学院,河北,保定,071002;保定学院,河北,保定,071000
基金项目:国家自然科学基金资助项目(10774036,60876055); 河北省应用基础研究计划重点基础研究资助项目(08965124D); 河北省自然科学基金资助项目(E2008000631,E2008000620); 教育部基金资助项目(207013)
摘    要:在4.0×10-4Pa的真空条件下,采用脉冲激光烧蚀技术在单晶Si衬底和石英衬底上制备了非晶纳米Si薄膜.在N2气氛下,经过900℃热退火得到纳米Si晶薄膜.采用表面台阶测试仪、扫描电子显微镜、拉曼光谱仪等检测手段对样品不同位置的微观结构进行了表征.测量结果表明制备的纳米Si晶薄膜厚度及其晶粒尺寸分布不均匀,随着测量点与样品沉积中心距离的增加,薄膜的厚度逐渐减小,纳米Si晶粒的尺寸逐渐增大.从脉冲激光烧蚀动力学的角度对实验结果进行了定性的分析.

关 键 词:脉冲激光烧蚀  纳米Si薄膜  晶粒尺寸  羽辉动力学

Influnence of deposition position on the microstructure of nanocrrystalline Si film fabricated by pulsed laser deposition
ZHOU Yang,ZHENG Hong-fang,WANG Ying-long,LIU Bao-ting. Influnence of deposition position on the microstructure of nanocrrystalline Si film fabricated by pulsed laser deposition[J]. Journal of Functional Materials, 2009, 40(10)
Authors:ZHOU Yang  ZHENG Hong-fang  WANG Ying-long  LIU Bao-ting
Affiliation:ZHOU Yang1,ZHENG Hong-fang2,WANG Ying-long1,LIU Bao-ting1(1.College of Physics Science and Technology,Hebei University,Baoding 071002,China,2.Baoding University,Baoding 071000,China)
Abstract:
Keywords:pulsed laser ablation  nanocrystalline silicon  grain size  plume dynamics  
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