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Zn+注入对p-GaN/Ni/Au欧姆接触特性的影响
引用本文:李鸿渐,石瑛,赵世荣,何庆尧,蒋昌忠. Zn+注入对p-GaN/Ni/Au欧姆接触特性的影响[J]. 功能材料, 2009, 40(6)
作者姓名:李鸿渐  石瑛  赵世荣  何庆尧  蒋昌忠
作者单位:武汉大学,物理科学与技术学院,湖北,武汉,430072;武汉大学,物理科学与技术学院,湖北,武汉,430072;武汉大学,物理科学与技术学院,湖北,武汉,430072;武汉大学,物理科学与技术学院,湖北,武汉,430072;武汉大学,物理科学与技术学院,湖北,武汉,430072
基金项目:国家自然科学基金资助项目(10675094,10205010,10435060)
摘    要:首次采用离子注入工艺研究金属电极和p-GaN的欧姆接触特性.Zn为Ⅱ族元素,可以提高p-GaN表面的栽流子浓度,对p-GaN/Ni/Au(5/10nm)界面处进行Zn+注入.经Zn+注入后的样品在空气氛围中快速热退火处理5min,以减少离子注入带来的晶格损伤.研究发现Zn+注入改善了p-GaN/Ni/Au的欧姆接触特性,接触电阻率ρc从10-1Ω·cm2数量级降低到10-3Ω·cm2数量级.研究了不同Zn+注入剂量(5×1015、1×1016、5×1016cm-2)对接触电阻率的影响,在注入剂量为1×1016cm-2、300℃下退火得到最优的接触电阻率为1.45×10-3Ω·cm2.用扫描电子显微镜观察了离子注入前后的表面形貌变化,探讨了接触电阻率改变的内在机制.

关 键 词:p-GaN  欧姆接触  离子注入  退火

Influence of p-GaN/Ni/Au ohmic contact characteristics by Zn~+ implantation
LI Hong-jian , SHI Ying , ZHAO Shi-rong , HE Qing-yao , JIANG Chang-zhong. Influence of p-GaN/Ni/Au ohmic contact characteristics by Zn~+ implantation[J]. Journal of Functional Materials, 2009, 40(6)
Authors:LI Hong-jian    SHI Ying    ZHAO Shi-rong    HE Qing-yao    JIANG Chang-zhong
Affiliation:LI Hong-jian,SHI Ying,ZHAO Shi-rong,HE Qing-yao,JIANG Chang-zhong (School of Physics and Technology,Wuhan University,Wuhan 430072,China)
Abstract:
Keywords:p-GaN  ohmic contact  ion implantation  annealing  
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