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| 基于遗传算法优化的BDD描述的数字电路功能测试 | |
| 引用本文： | 梁泳,梁述海,李雁飞.基于遗传算法优化的BDD描述的数字电路功能测试[J].计算机测量与控制,2003,11(3):163-164,167. |
| 作者姓名： | 梁泳 梁述海 李雁飞 |
| 作者单位： | 海军工程大学,动力工程学院,湖北,武汉,430033 |
| 摘 要： | 针对数字电路的测试两大难点，采用二元判决图(BDD)表示数字电路模型，同时由BDD生成测试矢量来完成数字电路的功能测试。在由VHDL描述完整电路功能的基础上用遗传算法对BDD的规模进行压缩优化。整个系统构成简单，自动化程度高，测试耗时少。 |
| 关 键 词： | 数字电路 功能测试 BDD 遗传算法 优化 二元判决图 |
| 文章编号： | 1671-4598(2003)03-0163-02 |
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