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基于CPCI总线技术的相控阵天线测试系统设计
作者姓名:宋云霞  刘永涛  黄田韵
作者单位:1. 中国电子科技集团公司第38研究所;2. 孔径阵列与空间探测安徽省重点实验室
摘    要:随着技术的发展和系统功能的增加,相控阵天线的规模越来越大,其工作模式也越来越复杂。为了在项目研发前期实现相控阵天线的全面性能测试,设计一种适应大规模阵面、多模式控制的相控阵天线测试系统显得尤为重要。本文主要论述了基于CPCI总线技术的相控阵天线测试系统的设计,以波控计算机和波束控制板为核心,与暗室测试设备同步交互,实现对相控阵天线多模式的测试控制和相控阵天线波束状态的实时监测。

关 键 词:相控阵天线  CPCI总线  测试系统
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