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Cu2ZnSnS4/Si异质结器件的制备及特性研究
引用本文:李琳,文亚南,董燕,汪壮兵,梁齐. Cu2ZnSnS4/Si异质结器件的制备及特性研究[J]. 真空, 2012, 49(5): 45-48
作者姓名:李琳  文亚南  董燕  汪壮兵  梁齐
作者单位:合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥,230009
基金项目:国家自然科学基金资助项目(51072043)
摘    要:利用脉冲激光沉积法在不同电阻率的n型Si(100)基片上沉积Cu2ZnSnS4薄膜,制备p-Cu2ZnSnS4/n-Si异质结.利用X射线衍射(XRD)、X射线能谱(EDS)和原子力显微镜(AFM)对Cu2ZnSnS4薄膜的结构、组分和形貌进行表征,并对器件进行I-V测试,讨论不同电阻率的Si对异质结器件光电特性的影响.结果表明,器件有良好的整流特性,Si电阻率大的器件光电响应比较好,而Si电阻率小的器件光伏效应比较明显.

关 键 词:脉冲激光沉积  Cu2ZnSnS4/Si异质结  I-V特性

Fabrication and characterization of Cu2ZnSnS4/Si heterojunction devices
LI Lin , WEN Ya-nan , DONG Yan , WANG Zhuang-bing , LIANG Qi. Fabrication and characterization of Cu2ZnSnS4/Si heterojunction devices[J]. Vacuum(China), 2012, 49(5): 45-48
Authors:LI Lin    WEN Ya-nan    DONG Yan    WANG Zhuang-bing    LIANG Qi
Affiliation:(School of Electronic Science and Applied Physics,Hefei University of Technology,Hefei 230009,China)
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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