固态检测器—ICP—AES中的计算机差谱改进技术（Ⅱ）—软件内容

采用计算机差谱技术校正光谱干扰，在无需知道基体浓度下，对高含量基体或多组分体系中微量元素能进行准确和快速的测定。详细介绍了Ｃ语言编写的实施差谱技术以及实验室例行分析的软件。利用ＰＤＡ或ＣＣＤ的检测器同时记录ＩＣＰ－ＡＥＳ发射光谱一段波长范围范围内信号的优点，差谱简单易行。对Ｖ基体中Ａｌ，Ａｌ和Ｍｇ基体中Ｖ的测定结果证明，差谱技术能有效地对光谱干扰和背景干扰进行校正。