用射线法检测真空灭弧室的真空压力

X射线对气体分子具有电离作用，用一束X射线照射真空来弧室可导致真空灭弧室内残余分子电离，电离电流值与分子数有关，分子数与真空压力直接相关，因此该电流值与真空压力相对应。这一特性有助于真空灭弧室真空压力的检测。