随机模式的可测试性

在使用随机输入的自测试中,一个主要的问题是测试质量的检验,即,故障复盖的计算。使用全部故障模拟这个笨的方法看来是不会引起人们重视的,因为逻辑结构的规模和 CPU 时间发生了冲突。因此研究一个新方法是很有必要的。本文叙述了计算故障复盖的一个新的分析方法,这个方法比模拟快。如果故障复盖下降到某个限度,它可能识别“抗随机方式”故障,修改逻辑,使故障容易检测,从而,增加随机测试的故障复盖。