CCD用于高精度线纹分划检测系统的研究 |
| |
引用本文: | 张君,邱宗明.CCD用于高精度线纹分划检测系统的研究[J].计量技术,2000(5):14-16. |
| |
作者姓名: | 张君 邱宗明 |
| |
作者单位: | [1]空军导弹学院 [2]西安理工大学 |
| |
摘 要: | 本文介绍一种用线阵CCD作为图象传感器实现对条码型水准尺线纹发划精度的检测系统,叙述了以CCD、图象数字信号采集与处理接口电路、双频激光干涉仪为核心的高精度动态位移测量的原理与实现的方法。
|
关 键 词: | 线纹分划 CCD 色差对比度 水准尺 检测系统 |
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录! |
|