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冷屏对红外探测器组件降温影响研究
引用本文:孙闻,夏晨希,李俊,王小坤. 冷屏对红外探测器组件降温影响研究[J]. 激光与红外, 2017, 47(10): 1286-1289
作者姓名:孙闻  夏晨希  李俊  王小坤
作者单位:中国科学院上海技术物理研究所 红外成像材料与器件重点实验室,上海 200083;中国科学院大学,北京 100049
摘    要:冷屏是制冷型红外探测器组件的重要组成部分并伴随探测器一起降温,所以不同技术状态冷屏对红外探测器组件降温会有影响。本文针对320×256 30 μm规模红外探测器用F2冷屏,通过对不同技术状态冷屏在相同冷平台下的降温实验,研究对应技术状态冷屏对降温过程的影响情况,并获得了各冷屏技术状态对应的影响量。本文结果对优化冷屏热学设计有一定借鉴意义。

关 键 词:红外探测器  冷屏  制冷

Research on the influence of cold shield on the cooling process of infrared detector assembly
SUN Wen,XIA Chen-xi,LI Jun,WANG Xiao-kun. Research on the influence of cold shield on the cooling process of infrared detector assembly[J]. Laser & Infrared, 2017, 47(10): 1286-1289
Authors:SUN Wen  XIA Chen-xi  LI Jun  WANG Xiao-kun
Affiliation:Key Laboratory of Infrared Imaging Materials and Detector,Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China;University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China
Abstract:
Keywords:infrared detector  cold shield  refrigeration
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