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具有部分n~+浮空埋层的高压SJ-LDMOS器件新结构
引用本文:朱辉,李琦,黄远豪.具有部分n~+浮空埋层的高压SJ-LDMOS器件新结构[J].桂林电子科技大学学报,2014(5).
作者姓名:朱辉  李琦  黄远豪
作者单位:桂林电子科技大学 广西信息科学实验中心,广西 桂林,541004
基金项目:国家自然科学基金,电子薄膜与集成器件国家重点实验室项目,桂林电子科技大学研究生教育创新计划
摘    要:为了抑制衬底辅助耗尽(SAD)效应并提高超结器件击穿电压,提出一种具有部分n+浮空层SJ-LDMOS新结构。n+浮空等位埋层能够调制器件横向电场,使得partial n+-floating SJ-LDMOS比传统SJ-LDMOS具有更加均匀的电场分布。通过三维仿真软件对新器件结构分析,与传统SJ-LDMOS进行比较。仿真结果表明,具有部分n+浮空层SJ-LDMOS结构的器件能将器件的击穿电压从138V提高到302V,且比导通电阻也从33.6mΩ·cm2降低到11.6mΩ·cm2,获得一个较为理想的低导通电阻高压功率器件。

关 键 词:部分n+浮空层  SJ-LDMOS  击穿电压

A new high-voltage SJ-LDMOS with partial n+-floating layer
Zhu Hui,Li Qi,Huang Yuanhao.A new high-voltage SJ-LDMOS with partial n+-floating layer[J].Journal of Guilin Institute of Electronic Technology,2014(5).
Authors:Zhu Hui  Li Qi  Huang Yuanhao
Abstract:
Keywords:partial n+-floating layer  SJ-LDMOS  breakdown voltage
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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