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LDO稳压器电磁脉冲损伤阈值试验研究
引用本文:崔志同,毛从光,孙蓓云,翟爱斌,靳茗. LDO稳压器电磁脉冲损伤阈值试验研究[J]. 微电子学, 2013, 43(3)
作者姓名:崔志同  毛从光  孙蓓云  翟爱斌  靳茗
作者单位:西北核技术研究所,西安,710024
基金项目:国家自然科学基金资助项目
摘    要:针对低压差线性稳压器,采用接触式脉冲电流注入试验方法,研究电磁脉冲对集成半导体器件的损伤机理,并对试验数据进行统计分析.结果显示,该器件的电磁脉冲损伤阈值规律可以用Weibull分布函数较好地进行表征.

关 键 词:电磁脉冲  低压差线性稳压器  损伤阈值  Weibull分布

Damage Threshold Characterization of LDO Regulator for EMP Interference
CUI Zhitong,MAO Congguang,SUN Beiyun,ZHAI Aibin,JIN Ming. Damage Threshold Characterization of LDO Regulator for EMP Interference[J]. Microelectronics, 2013, 43(3)
Authors:CUI Zhitong  MAO Congguang  SUN Beiyun  ZHAI Aibin  JIN Ming
Abstract:
Keywords:EMP  LDO  Damage threshold  Weibull distribution
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