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| 适用于纳米工艺的SET/SEU加固触发器设计 | |
| 引用本文： | 周荣俊,张金艺,唐夏,李娟娟,张秉煜. 适用于纳米工艺的SET/SEU加固触发器设计[J]. 微电子学, 2013, 43(3) |
| 作者姓名： | 周荣俊 张金艺 唐夏 李娟娟 张秉煜 |
| 作者单位： | 1. 上海大学微电子研究与开发中心,上海,200072 2. 上海大学微电子研究与开发中心,上海200072;上海大学特种光纤与光接入网省部共建教育部重点实验室,上海200072;上海大学教育部新型显示与系统应用重点实验室,上海200072 3. 上海大学特种光纤与光接入网省部共建教育部重点实验室,上海,200072 |
| 基金项目： | 上海市科委项目，上海市教委重点学科项目 |
| 摘 要： | 针对触发器在纳米级工艺下容易受空间辐射中单粒子效应的影响而产生软错误的情况,基于CPSH触发器结构,研究了一种对单粒子效应中SET/SEU加固的延时采样软错误防护(DSSEP)触发器结构.该触发器由延时采样单元、输入传输单元、软错误鲁棒存储锁存器和反相输出单元组成.延时采样单元对来自其他逻辑电路的输出数据进行采样,采样数据经输入传输单元写入软错误鲁棒存储锁存器,并通过一个反相输出单元输出.仿真结果表明,DSSEP触发器具有很好的SET/SEU加固能力.经过比较和分析,证明DSSEP触发器与具有同样SET/SEU加固能力的保护门触发器(GGFF)相比,在晶体管数目和传播延时方面仅为GGFF的62％和33％. |
| 关 键 词： | 单粒子效应 CPSH触发器 C单元 |
Design of SET/SEU Hardened Flip-Flop for Nanometer Process |
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| ZHOU Rongjun,ZHANG Jinyi,TANG Xi,LI Juanjuan,ZHANG Bingyu. Design of SET/SEU Hardened Flip-Flop for Nanometer Process[J]. Microelectronics, 2013, 43(3) | |
| Authors: | ZHOU Rongjun ZHANG Jinyi TANG Xi LI Juanjuan ZHANG Bingyu |
| Abstract: | |
| Keywords: | Single event effect Clock pre-charge SEU hardened flip-flop C element |
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