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基于UVM的可重用SoC功能验证环境
引用本文:吕毓达,谢雪松,张小玲.基于UVM的可重用SoC功能验证环境[J].半导体技术,2015,40(3):234-238.
作者姓名:吕毓达  谢雪松  张小玲
作者单位:北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100022;北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100022;北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100022
摘    要:现在系统级芯片(SoC)系统集成度和复杂度不断提高,验证环节消耗时间占用了芯片研发时间的70%,芯片验证已经成为芯片研发中最关键的环节.目前业界验证方法大多有覆盖率低和通用性差等缺点,基于上述原因提出了一种新的验证方法.与传统验证方法和单纯的通用验证方法学(UVM)不同,该方法结合系统级芯片验证和模块级验证的特点,并且融合UVM和知识产权验证核(VIP)模块验证的验证技术,且使用了SoC系统功能仿真模型以提高验证覆盖率和准确性.验证结果表明,同一架构系列SoC芯片可以移植于该验证平台中,并且可大幅缩短平台维护与开发时间,采用该验证方法的代码覆盖率为98.9%,功能覆盖率为100%.

关 键 词:通用验证方法学(UVM)  CPU功能模型  随机测试向量  系统级芯片验证  系统级芯片(SoC)

Reusable SoC Function Verification Environment Based on UVM
Lü Yuda;Xie Xuesong;Zhang Xiaoling.Reusable SoC Function Verification Environment Based on UVM[J].Semiconductor Technology,2015,40(3):234-238.
Authors:Lü Yuda;Xie Xuesong;Zhang Xiaoling
Affiliation:Lü Yuda;Xie Xuesong;Zhang Xiaoling;College of Electronic Information & Control Engineering,Beijing University of Technology;
Abstract:
Keywords:universal verification methodology (UVM)  CPU function model  random test vectors  system chip verification  system on chip (SoC)
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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