| 高IP3的测试方法 |
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| 引用本文： | 赵利,付国映,陈文全,徐继麟. 高IP3的测试方法[J]. 现代电子技术, 2004, 27(4): 46-48 |
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| 作者姓名： | 赵利 付国映 陈文全 徐继麟 |
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| 作者单位： | 电子科技大学,电子工程学院,四川,成都,610054 |
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| 摘 要： | 具体分析了高 IP3测试环境中的不利因素 ,提出了减小其影响的方法 ,以提高高 IP3测试的准确度
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| 关 键 词： | IP3 IMD3 信号源 功率合成器 频谱分析仪 |
| 文章编号： | 1004-373X(2004)04-046-03 |
| 修稿时间： | 2003-11-22 |
Method of Measuring High IP3 |
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| ZHAO Li,FU Guoying,CHEN Wenquan,XU Jilin. Method of Measuring High IP3[J]. Modern Electronic Technique, 2004, 27(4): 46-48 |
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| Authors: | ZHAO Li FU Guoying CHEN Wenquan XU Jilin |
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| Abstract: | In this paper we particularly analyse the bad factors in the environment of measuring high IP3 and bring forward the methods of descreasing their effect, in order to measure high IP3 accurately |
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| Keywords: | thirdorder intercept point thirdorder intermodulation distortion signal generation power synthesizer spectrum analyzer |
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