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应用于NFC的低温烧结NiCuZn材料研究
引用本文:刘卫沪,颜铄清,李启凡,陈中艳,董丽,冯则坤.应用于NFC的低温烧结NiCuZn材料研究[J].压电与声光,2014(1).
作者姓名:刘卫沪  颜铄清  李启凡  陈中艳  董丽  冯则坤
作者单位:华中科技大学光学与电子信息学院;
基金项目:广东省江门市2013重大科技专项基金资助项目
摘    要:采用流延法制备了长×宽为125mm×125mm,厚最薄为50μm的铁氧体电磁屏蔽片。研究了电磁屏蔽片屏蔽近场噪声源能力与材料磁谱间的关系,同时研究了材料中的CuO含量及助烧剂Bi2O3的添加量对材料磁谱的影响。结果表明,电磁屏蔽片屏蔽近场噪声源的能力与材料在13.56MHz下的磁导率μ′及品质因数(Q)相关。CuO含量过大,材料的磁谱特性会变差;Bi2O3的添加量对材料的高频段磁谱性能影响不大。

关 键 词:低温烧结铁氧体  近场通信(NFC)  电磁屏蔽片
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