在表面活性剂存在条件下用桑色素荧光光度法测定痕量铍 |
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引用本文: | 丁慧贤,邵景景.在表面活性剂存在条件下用桑色素荧光光度法测定痕量铍[J].黑龙江矿业学院学报,1998,8(1):21-25. |
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作者姓名: | 丁慧贤 邵景景 |
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摘 要: | 用荧光光度法研究了桑色素-Triton-X100-十二烷基硫酸钠-铍(Ⅱ)体系测定方法及条件在pH在12.5的H3BO3-NaOH缓冲溶液中,检测限为0.01μg/ml,铍在含量在0.1 ̄1μg/ml范围内呈线性关系,本法灵敏度高、选择性好,可不加有机试剂萃取,在水相中直接进行测定合金及水样中痕量铍。结果令人满意。
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关 键 词: | 铍 桑色素 十二烷基硫酸钠 荧光光度法 |
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