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电流密度对纳米锌镍合金镀层显微组织的影响
引用本文:李光玉,牛丽媛,江中浩,孙丽萍,连建设. 电流密度对纳米锌镍合金镀层显微组织的影响[J]. 吉林大学学报(工学版), 2006, 36(6): 835-0840
作者姓名:李光玉  牛丽媛  江中浩  孙丽萍  连建设
作者单位:吉林大学,材料科学与工程学院,汽车材料教育部重点实验室,长春,130022;吉林大学,材料科学与工程学院,汽车材料教育部重点实验室,长春,130022;吉林大学,材料科学与工程学院,汽车材料教育部重点实验室,长春,130022;吉林大学,材料科学与工程学院,汽车材料教育部重点实验室,长春,130022;吉林大学,材料科学与工程学院,汽车材料教育部重点实验室,长春,130022
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划);面向21世纪教育振兴行动计划(985计划);吉林大学校科研和教改项目
摘    要:采用适当的添加剂在碱性体系中获得了晶粒度为14—33 nm的纳米锌镍合金电镀层。并应用赫尔槽试验、透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)和X射线衍射(XRD)等技术研究了电流密度对镀层晶体结构的影响。结果表明,在该体系中,在电流密度为0.5—50 A/dm2得到的纳米锌镍合金镀层均为单一的γ-相(N i5Zn21)结构。随电流密度的增加,在低电流密度区镀层的晶粒度由33 nm迅速降至17 nm,在中高电流密度区晶粒度保持在14—17 nm。另外,镀层中还存在亚微米级晶粒团簇,其尺寸随电流密度的增加呈线性增大。

关 键 词:材料表面与界面  材料合成与加工工艺  纳米  锌镍合金镀层  耐蚀性  TEM  SEM  XRD
文章编号:1671-5497(2006)06-0835-06
收稿时间:2005-09-28
修稿时间:2005-09-28

Influence of current density on microstructure of nanocrystalline Zinc Nickel alloy deposition
Li Guang-yu,Niu Li-yuan,Jiang Zhong-hao,Sun Li-ping,Lian Jian-she. Influence of current density on microstructure of nanocrystalline Zinc Nickel alloy deposition[J]. Journal of Jilin University:Eng and Technol Ed, 2006, 36(6): 835-0840
Authors:Li Guang-yu  Niu Li-yuan  Jiang Zhong-hao  Sun Li-ping  Lian Jian-she
Affiliation:College of Materials Science and Engineering, Key Laboratory of Automobile Materials, Ministry of Education, Jilin University, Changchun 130022, China
Abstract:The zinc nickel alloy depositions with grain size of 14-33 nm were electroplated by using adequate additives in an alkaline bath.The microstructures and phase compositions of the depositions were analyzed by TEM,SEM and XRD technologies.It was demonstrated that the depositions obtained from the bath with current density range of 0.5-50 A/dm~2 are all single γ-phase(Ni_5Zn_(21)).Crystal size decreases from 33 nm to 17 nm with the increase of current density in low current density range,and tend to stable in the range of 14-17 nm in medium and high current density range.There are many clusters of grains,whose sizes increase linearly with the increase of current density.
Keywords:TEM  SEM  XRD
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