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FeCoSiB/Cu/FeCoSiB多层膜的应力阻抗效应研究
引用本文:刘均东,张万里,彭斌.FeCoSiB/Cu/FeCoSiB多层膜的应力阻抗效应研究[J].材料导报,2010,24(12).
作者姓名:刘均东  张万里  彭斌
作者单位:电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都,610054;电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都,610054;电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都,610054
基金项目:国家自然科学基金,国防预研基金 
摘    要:采用直流磁控溅射法在柔性Kapton基片上制备了三明治结构的FeCoSiB/Cu/FeCoSiB多层膜,研究了多层膜的交流阻抗随外加应力变化的规律.测试结果表明,三明治结构多层膜的阻抗随外加应力的增大而增大,应力阻抗效应随中间导电层厚度以及铁磁层厚度的增加而增强,同时应力阻抗效应也与测试频率密切相关.

关 键 词:FeCoSiB/Cu/FeCoSiB多层膜  应力阻抗效应  柔性基片

Stress Impedance Effect in FeCoSiB/Cu/FeCoSiB Multilayer Films
LIU Jundong,ZHANG Wanli,PENG Bin.Stress Impedance Effect in FeCoSiB/Cu/FeCoSiB Multilayer Films[J].Materials Review,2010,24(12).
Authors:LIU Jundong  ZHANG Wanli  PENG Bin
Abstract:
Keywords:
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