| 开放式多功能扫描探针显微镜系统 |
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| 引用本文： | 吴浚瀚,杨德亮,吴浚泓,袁伟华,黄桂珍,牟涛,商广义,万立骏,白春礼.开放式多功能扫描探针显微镜系统[J].现代科学仪器,2003(2):36-38. |
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| 作者姓名： | 吴浚瀚 杨德亮 吴浚泓 袁伟华 黄桂珍 牟涛 商广义 万立骏 白春礼 |
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| 作者单位： | 中国科学院化学研究所本原纳米仪器有限公司,北京,100080;北京大学物理系,北京,100871 |
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| 摘 要： | 开放式多功能扫描探针显微镜、集成扫描隧道显微镜、原子力显微镜、横向力显微镜和静电力显微镜．具有接触、半接触和非接触工作模式，可进行作用力、电流、电位、光能量等参数的高度局域综合测量,具有极高的开放性和可扩展性，支持用户进行二次开发。
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| 关 键 词： | 扫描探针显微镜 原子力显微镜 扫描隧道显微镜 开放式 多功能 纳米科技 |
| 修稿时间： | 2003年3月30日 |
The Open Multi-function Scanning Probe Microscope |
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| Wu Junhan,Yang Deliang,Wu Junhong,Yuan Weihua,Huang Guizhen,Mou Tao,Shang Guangyi,Wan Lijun,Bai Chunli.The Open Multi-function Scanning Probe Microscope[J].Modern Scientific Instruments,2003(2):36-38. |
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| Authors: | Wu Junhan Yang Deliang Wu Junhong Yuan Weihua Huang Guizhen Mou Tao Shang Guangyi Wan Lijun Bai Chunli |
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| Abstract: | The multi function open scanning probe microscope (SPM), which includes scanning tunneling microscope (STM), atomic force microscope (AFM), lateral force microscope (LFM) and electrostatic force microscope (EFM) with contact mode, tapping mode and non contact mode, is introduced in this paper. |
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| Keywords: | Scanning probe microscope atomic force microscope scanning tunneling microscope open multi function nanotechnology |
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