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| 利用X射线荧光分析仪测碱含量 | |
| 引用本文： | 李慧兰.利用X射线荧光分析仪测碱含量[J].水泥工程,2003(5):67-67. |
| 作者姓名： | 李慧兰 |
| 作者单位： | 国投海南水泥有限公司,海南,昌江,5727000 |
| 摘 要： | 2001年8月,应市场需求,我公司开始组织生产低碱水泥,要求出厂水泥碱含量小于0.60％以0.658w(K2O)+w(Na2O)计]。由于所用矿山石灰石碱含量波动很大w(K2O)=0.01％-2.4％,W(Na2O)=0.01％-1.6％],导致生料中的碱含量不易控制w(K2O)=0.23％-0.58％,w(Na2O)=0.06％-0.16％],最终导致半成品、成品碱含量不易控制成品w(K2O)=0.40％-0.88％, |
| 关 键 词： | 水泥 X射线荧光分析仪 低碱水泥 生料 熟料 |
| 文章编号： | 1007-0389(2003)05-0067-01 |
| 修稿时间： | 2003年5月20日 |
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