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焦平面阵列红外成像设备噪声特性分析及仿真
引用本文:樊宏杰,邹前进,刘连伟,姚梅,陈洁.焦平面阵列红外成像设备噪声特性分析及仿真[J].激光与红外,2019,49(7):855-860.
作者姓名:樊宏杰  邹前进  刘连伟  姚梅  陈洁
作者单位:洛阳电子装备试验中心,河南 洛阳,471003;洛阳电子装备试验中心,河南 洛阳,471003;洛阳电子装备试验中心,河南 洛阳,471003;洛阳电子装备试验中心,河南 洛阳,471003;洛阳电子装备试验中心,河南 洛阳,471003
基金项目:国家自然科学基金项目(No.11504420)资助
摘    要:红外成像设备噪声分析及仿真是红外图像仿真工作的重要组成部分。分析了焦平面红外成像设备的噪声组成及特性。焦平面红外成像设备的噪声可以分解为非均匀性噪声、非均匀性漂移噪声和随机噪声。分别针对凝视红外成像设备和扫描红外成像设备分析了噪声成分的计算过程及数字特征。根据实测图像数据可提取非均匀性噪声矩阵(或向量)、非均匀性漂移噪声特征参数矩阵、随机噪声特征参数矩阵(或向量)。非均匀性漂移噪声短时间内服从线性变化关系。随机噪声服从正态分布。最后给出了基于实测噪声特征数据的焦平面阵列成像设备的噪声仿真过程。

关 键 词:焦平面红外成像  非均匀性噪声  非均匀性漂移噪声  随机噪声

Noise analysis and simulation of FPA infrared imaging device
FAN Hong-jie,ZOU Qian-jin,LIU Lian-wei,YAO Mei,CHEN Jie.Noise analysis and simulation of FPA infrared imaging device[J].Laser & Infrared,2019,49(7):855-860.
Authors:FAN Hong-jie  ZOU Qian-jin  LIU Lian-wei  YAO Mei  CHEN Jie
Affiliation:Luoyang Electronic Equipment Test Center,Luoyang 471003,China
Abstract:Noise analysis of infrared imaging device is one of important components of infrared image simulation.The components and characteristics of noises for FPA infrared imaging device are analyzed in the paper.These noises can be decomposed into non-uniformity noise,non-uniformity excursion noise and random noise.The calculation process and the digital feature of the noise of staring imaging device and scanning imaging device are analyzed.The non-uniformity noise matrix (or vector),characteristic parameter matrix of non-uniformity excursion noise,characteristic parameter matrix (or vector) of random noise can be calculate from test image data.Non-uniformity excursion noise obeys the linear relationship in a short time.Random noise obeys normal distribution.The noises simulation process of FPA base on test noise data is presented.
Keywords:FPA infrared imaging  non-uniformity noise  non-uniformity excursion noise  random noise
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