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深亚微米工艺下IC的EMC问题及其测量

作者姓名：	潘松李逍波

作者单位：	上海海尔集成电路公司上海海尔集成电路公司

摘要：	引言　　产品的内在质量要靠每一层组件的EMC性能保证,在解决技术上应关注和克服产生EMC问题的原因.……
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