| 关于底部填充在倒装芯片应用中空洞缺陷的影响因素 |
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| 引用本文： | George Carson Maury Edwards 马怡亮.关于底部填充在倒装芯片应用中空洞缺陷的影响因素[J].现代表面贴装资讯,2007,6(3):19-23. |
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| 作者姓名： | George Carson Maury Edwards 马怡亮 |
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| 作者单位： | [1]不详 [2]汉高乐泰（中国）有限公司电子部应用工程师 |
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| 基金项目： | 感谢 Kathy Lewis and Kathy Costello for their efforts in imaging test parts. Michael Todd for his input in identifying sources of voiding |
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| 摘 要： | 底部填充包封材料起初应用于提高早期氧化铝（Al2O3）基材的倒装芯片的可靠性。在芯片最外围的焊点易疲劳而导致芯片功能失效．相对较小的硅片和基材间的热膨胀差异是芯片在经受热循环时产生这种问题的根源．这样，热循环的温度范围及循环的次数就决定了芯片的使用寿命．在芯片和基板间填充可固化的包封材料，可以很好地把热膨胀差异带来的集中于焊点周围的应力分散到整个芯片所覆盖的范围。
随着引入环氧材料作为倒装芯片的基材，底部填充材料的研发大大地加快了。为了延缓焊点的应力疲劳，较大的基材和芯片硅片材料间的热膨胀差异使得底部填充剂的应用成为必然．而在底部填充材料和芯片接合界面的分层及底部填充剂中的空洞是触发许多芯片产生问题的根本原因之一。本篇将要讨论的是减少底部填充剂中的空洞的一些方法．编者按]
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| 关 键 词： | 底部填充材料 倒装芯片 空洞缺陷 影响因素 应用 底部填充剂 应力疲劳 包封材料 |
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