| 数模混合信号的测试与仿真 |
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| 引用本文： | 徐卫林,何怡刚,厉芸. 数模混合信号的测试与仿真[J]. 现代电子技术, 2004, 27(22): 80-82,93 |
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| 作者姓名： | 徐卫林 何怡刚 厉芸 |
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| 作者单位： | 湖南大学,电气与信息工程学院,湖南,长沙,410082 |
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| 基金项目： | 高校博士学科点专项科研基金 (2 0 0 2 0 532 0 1 6)，湖南省杰出青年基金，湖南大学撷英计划基金，湖南省科技计划基金 [0 3GKY31 1 5] |
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| 摘 要： | VLSI的发展特别是SoC的出现，对混合信号测试的研究提出了紧迫的要求。结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点．本文着重讨论了目前现有的各种测试手段及其各自的特点。
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| 关 键 词： | 片上系统 混合信号 扫描测试 内置自测试 故障仿真 |
| 文章编号： | 1004-373X(2004)22-080-03 |
Analog/Digital Mixed-signal Circuit Testing and Simulation |
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| XU Weilin,HE Yigang,Li Yun. Analog/Digital Mixed-signal Circuit Testing and Simulation[J]. Modern Electronic Technique, 2004, 27(22): 80-82,93 |
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| Authors: | XU Weilin HE Yigang Li Yun |
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| Abstract: | With the development of VLSI, especially systemonchip(SoC), it is imperative to engage in the research of mixedsignal circuit testing. The paper discussess all kinds of testing measures and their characteristics along with the difficulty of designfortestablity(DfT) of SoC. |
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| Keywords: | SoC mixedsignal scan test BIST fault simulation |
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