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YK—系列新型抗氧化焊料研究及应用
作者姓名:臧健  王吉坤  李怀仁  吴家聪  吴正芬
作者单位:昆明冶金研究所,昆明冶金研究所,昆明冶金研究所,个旧市有色金属加工厂,个旧市有色金属加工厂
摘    要:近年来,随着电子工业的迅速发展,对电子元件引线的可焊性,整机的可靠性提出了很高的要求。新的钎焊技术的出现已使传统的焊料远远不能适应新技术的发展。熔态的锡—铅焊料因长时间暴露在空气中氧化,表面不断生成黑色的氧化渣,引起焊料的大量损失,而且影响电子元器件的焊接质量。据资料介绍:全国电子行业每年损失的金属锡有350吨,加上工时费用造成的损失达7000余万元之多。国家每年为解决这些问

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