| 基于腔损耗扫描寻优的光腔衰荡高反射率测量 |
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| 引用本文： | 田中州,何星,王帅,杨平,许冰.基于腔损耗扫描寻优的光腔衰荡高反射率测量[J].激光与光电子学进展,2023(7):145-150. |
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| 作者姓名： | 田中州 何星 王帅 杨平 许冰 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院光电技术研究所自适应光学重点实验室;2. 中国科学院光电技术研究所;3. 中国科学院大学 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金（61805251,61875203,11811530290,11704382）；;中国科学院青年创新促进会（2017429）； |
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| 摘 要： | 针对目前腔失调参数与腔损耗之间的映射关系并不明确，调腔过程中腔相对失调量亦不明晰等问题，提出一种基于腔失调参数扫描的腔损耗寻优调腔方法。该方法通过腔镜倾斜调节量的扫描寻优，以光腔衰荡时间为判据寻找初始腔和测试腔相对失调优化的腔状态。实验结果表明：通过该方法，对同一高反射率待测样片6次实验测量结果的测量重复性精度相比传统方法由1.26×10-4提高到约9.83×10-6，测量重复性峰谷值由3.25×10-4提高到2.7×10-5，测量结果更稳定，表明该方法能获得腔参数相对失调更小的调腔状态，为在初始腔反射率较低的光腔衰荡测量系统中抑制衰荡腔相对失调提供了一种解决方案。
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| 关 键 词： | 测量 光腔衰荡 高反射率测量 腔损耗寻优 基横模 |
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