| 氢化物发生一原子荧光光谱法测定精锡中的微量铋 |
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| 引用本文： | 王劲榕,毛禹平,王铭,杨毅,刘英波. 氢化物发生一原子荧光光谱法测定精锡中的微量铋[J]. 云南冶金, 2006, 35(1): 59-60 |
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| 作者姓名： | 王劲榕 毛禹平 王铭 杨毅 刘英波 |
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| 作者单位： | 云南省有色金属及制品质量检测中心,云南,昆明,650031 |
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| 摘 要： | 采用HCl＋HBr挥发除锡，以HG—AFS法测定精锡产品中微量铋，效果良好。
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| 关 键 词： | 精锡 微量铋 氢化物-原子荧光光谱法 |
| 文章编号： | 1006-0308(2006)01-0059-02 |
| 收稿时间： | 2005-12-10 |
| 修稿时间： | 2005-12-10 |
The HG-AFS Determination of Trace Bi in Purity Sn |
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| WAN Jing-rong,MAO yu-ping,WANG Ming,YANG Yl,LIU ring-bo. The HG-AFS Determination of Trace Bi in Purity Sn[J]. , 2006, 35(1): 59-60 |
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| Authors: | WAN Jing-rong MAO yu-ping WANG Ming YANG Yl LIU ring-bo |
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| Affiliation: | Yunnan Nonfrrous Metals and the product Inspection Centre, Kunming 650031 |
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| Abstract: | Voltize Sn with Hu+HBr,Dotermination of Trace Bi in Purity Sn products by HGAFS with satisfactory results. |
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| Keywords: | Purity Sn Trace Bi HC-AFS |
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