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| 基于边界扫描技术的测试系统设计 | |
| 作者姓名： | 马少霞 孟晓风 钟波 |
| 作者单位： | 北京航空航天大学,仪器科学与光电工程学院,北京,100083;北京航空航天大学,仪器科学与光电工程学院,北京,100083;北京航空航天大学,仪器科学与光电工程学院,北京,100083 |
| 摘 要： | 随着超大规模集成电路(VLSI)、表面安装器件(SMD)、多层印制电路板(MPCB)等技术的发展,电路板的常规测试方式面临挑战。介绍了边界扫描技术及边界扫描测试的基本原理,提出了一种基于边界扫描技术的测试系统方案及其实现,并着重介绍了JTAG总线控制器的设计。 |
| 关 键 词： | 边界扫描 内建自测试 可测性设计 |
| 修稿时间： | 2005-08-28 |
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