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分类号
杂志ISSN号
纳米界面性能在电介质科学中的应用
作者姓名:
何恩广
刘庆峰
尚文宇
作者单位:
西安交通大学,陕西,西安,710049
摘 要:
本文介绍了纳米科学技术中纳米界面的研究及其与电介质性能的联系 ,综述了纳米界面为绝缘电介质等基本电介质领域研究提供的新思路。
关 键 词:
纳米界面
电介质
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