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| 元器件板级应用验证方法研究 | |
| 引用本文： | 李圣德,席善斌,柳华光.元器件板级应用验证方法研究[J].电子质量,2022(8):25-27. |
| 作者姓名： | 李圣德 席善斌 柳华光 |
| 作者单位： | 1. 中国电子科技集团公司第十三研究所;2. 国家半导体器件质量检验检测中心 |
| 摘 要： | 针对电子元器件板级应用场景复杂特点，提出板级应用验证的工作思路，构建板级应用验证流程，提出板级应用验证的难点，形成板级应用验证理论体系。 |
| 关 键 词： | 应用验证 验证流程 理论体系 |
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