| 继电器寿命测试方法和测试设备的研究 |
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| 引用本文： | 嗓钢 赵六骏. 继电器寿命测试方法和测试设备的研究[J]. 北京邮电大学学报, 1994, 17(4): 73-76 |
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| 作者姓名： | 嗓钢 赵六骏 |
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| 作者单位： | 北京邮电大学函授学院 |
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| 摘 要： | 提出了一种测试继电器寿命的新方法。这种新方法是以ｍ序列信号驱动继电器随机动作进行开关试验的方法。同时介绍一种实现这种方法的测试设备。
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| 关 键 词： | 继电器 测试 设备 寿命 |
Research on a Testing Relay Life Method and the Test Device |
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| Chai Gang,Zhao Liujun. Research on a Testing Relay Life Method and the Test Device[J]. Journal of Beijing University of Posts and Telecommunications, 1994, 17(4): 73-76 |
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| Authors: | Chai Gang Zhao Liujun |
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| Abstract: | A new method for testing relay life is presnted.This is a switching test method byusing m-sequence signal to drive the relay at random action.A device that can implement thenew test method is also introduced here. |
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| Keywords: | relay testing technique relay testing equipment/random drive relay life |
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