S—250MK3型扫描电子显微镜故障及维修 |
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引用本文: | 聂继红 唐稼祥. S—250MK3型扫描电子显微镜故障及维修[J]. 分析测试仪器通讯, 1997, 7(1): 47-48 |
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作者姓名: | 聂继红 唐稼祥 |
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作者单位: | 中国矿业大学分析测试中心 |
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摘 要: | 介绍了剑桥S-250M型扫描电子显微镜在实际操作中出现的典型故障及维修方法。
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关 键 词: | 扫描电镜 故障 维修 电子显微镜 |
Trouble_Shooting and Service of S_250MK3 Scanning Electron Microscope |
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Abstract: | Common troubles in operating Cambridge S_250MK3 scanning electron microscope and the trouble_shooting methods are summarized in this paper. |
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Keywords: | , scanning electron microscope, trouble, trouble_shooting |
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