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S—250MK3型扫描电子显微镜故障及维修
引用本文:聂继红 唐稼祥. S—250MK3型扫描电子显微镜故障及维修[J]. 分析测试仪器通讯, 1997, 7(1): 47-48
作者姓名:聂继红 唐稼祥
作者单位:中国矿业大学分析测试中心
摘    要:介绍了剑桥S-250M型扫描电子显微镜在实际操作中出现的典型故障及维修方法。

关 键 词:扫描电镜 故障 维修 电子显微镜

Trouble_Shooting and Service of S_250MK3 Scanning Electron Microscope
Abstract:Common troubles in operating Cambridge S_250MK3 scanning electron microscope and the trouble_shooting methods are summarized in this paper.
Keywords:, scanning electron microscope, trouble, trouble_shooting
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