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| 适用于微分析质控的标准物质的探索 | |
| 作者姓名： | 黄东辉 肖才锦 倪邦发 田伟之 张元勋 王平生 张贵英 刘存兄 |
| 作者单位： | [1]不详 [2]中国科学院上海应用物理研究所 |
| 摘 要： | 为满足日益发展的微分析对质控的要求，本工作选择了一种水系沉积物的天然基体进行研究。结合NAA—PIXE—SRxRF三种核分析技术，在跨越9个量级，即从几百克到零点几纳克的取样量范围内对这种基体进行了多元素取样行为的研究。 |
| 关 键 词： | 微分析 标准物质 质控 水系沉积物 核分析技术 SRxRF PIXE 取样量 |
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