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pnp型SiGe HBT的制备研究
引用本文:王喜媛,张鹤鸣,刘道广,郑娥,张静,徐婉静.pnp型SiGe HBT的制备研究[J].半导体技术,2003,28(3):34-36,62.
作者姓名:王喜媛  张鹤鸣  刘道广  郑娥  张静  徐婉静
作者单位:1. 西安电子科技大学微电子研究所,陕西,西安,710071
2. 重庆固体电子研究所重点实验室,重庆,400060
摘    要:从pnp型Si/SiGe HBT的能带结构出发,阐述pnp型Si/SiGe HBT的较大原理,采用MBE方法生长Si/Si1-xGex合金材料,并对Si/Si1-xGex合金材料的物理特性和异质结特性进行表征,在重庆固体电子研究所工艺线上,研制出了pnp型Si/SiGe HBT器件,器件参数为:Vcb0=9V,Vcc0=2.5V,Veb0=5V,β=10。

关 键 词:pnp型SiGeHBT  禁带宽度  Ge组分  能带  异质结双极型晶体管
文章编号:1003-353X(2003)03-0034-03
修稿时间:2002年10月15日

Preparation study of pnp SiGe HBT
WANG Xi-yuan,ZHANG He-ming,LIU Dao-guang,ZHENG E,ZHANG Jing,XU Wan-jing.Preparation study of pnp SiGe HBT[J].Semiconductor Technology,2003,28(3):34-36,62.
Authors:WANG Xi-yuan  ZHANG He-ming  LIU Dao-guang  ZHENG E  ZHANG Jing  XU Wan-jing
Affiliation:WANG Xi-yuan1,ZHANG He-ming1,LIU Dao-guang2,ZHENG E2,ZHANG Jing2,XU Wan-jing2
Abstract:
Keywords:pnp SiGe HBT  Eg (band-gap energy)  the component of Ge  band-gap
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