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| 锗硅量子点掠入射小角X射线散射研究 | |
| 引用本文： | 王玉柱,贾全杰,陈雨,薛宪营,姜晓明,崔健,林健晖,蒋最敏,何庆. 锗硅量子点掠入射小角X射线散射研究[J]. 核技术, 2008, 31(4): 250-254 |
| 作者姓名： | 王玉柱 贾全杰 陈雨 薛宪营 姜晓明 崔健 林健晖 蒋最敏 何庆 |
| 作者单位： | 1. 中国科学院高能物理研究所,北京,100049 2. 复旦大学表面物理实验室,上海,200433 3. 中国科学院上海应用物理研究所,上海,201800 |
| 摘 要： | 采用同步辐射X射线对MBE制备的锗硅量子点试样进行了掠入射小角X射线散射(GISAXS,grazing incidence small angle X-ray scattering)研究.根据AFM测量得到的量子点尺寸、形状和间距等参数,采用DWBA理论以及合适的分布函数,利用IsGISAXS程序对一维和二维GISAXS测量结果进行了模拟,模拟结果与实验数据符合很好,表明GISAXS是一种探测锗硅量子点尺寸、形状和分布等结构信息有效的方法. |
| 关 键 词： | 锗硅 量子点 掠入射小角X射线散射 |
| 修稿时间： | 2007-11-01 |
GeSi quantum dots studied by grazing incidence small angle X-ray scattering |
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| WANG Yuzhu,JIA Quanjie,CHEN Yu,XUE Xianying,JIANG Xiaoming,CUI Jian,LIN Jianhui,JIANG Zuimin,HE Qing. GeSi quantum dots studied by grazing incidence small angle X-ray scattering[J]. Nuclear Techniques, 2008, 31(4): 250-254 | |
| Authors: | WANG Yuzhu JIA Quanjie CHEN Yu XUE Xianying JIANG Xiaoming CUI Jian LIN Jianhui JIANG Zuimin HE Qing |
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