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| 超大规模集成电路的并行测试技术 | |
| 引用本文： | 李仪. 超大规模集成电路的并行测试技术[J]. 国外电子测量技术, 2004, 23(6): 21-22 |
| 作者姓名： | 李仪 |
| 摘 要： | 本文介绍先进的VLSI并行测试技术的原理和实现方法，并行测试可显著提高ATE的测试效率。 |
| 关 键 词： | 并行测试 多工位夹具 超大规模集成电路 芯片系统 |
Paralell Test Technology of the Vltra-Large Scale IC |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
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