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| IDS缺陷探讨 | |
| 引用本文： | 匡平,卢延诗,马毅. IDS缺陷探讨[J]. 中国测试技术, 2003, 29(1): 58-60 |
| 作者姓名： | 匡平 卢延诗 马毅 |
| 作者单位： | 电子科技大学机械电子工程学院,成都,610054 |
| 摘 要： | 以现有的IDS技术模型和实现技术为切入点 ,对IDS产品的缺陷进行了深入的讨论 ,提出了改善现有IDS缺陷的若干策略。 |
| 关 键 词： | IDS 缺陷 自动反应 |
Approaching on IDS defect |
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| Abstract: | |
| Keywords: | IDS |
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